Patentometría
Este término se relaciona con los estudios métricos o estadísticos de las patentes. En otras palabras, se refiere al análisis cuantitativo de los indicadores de Patentes, como una herramienta para el análisis de oportunidades tecnológicas. Surge como una serie de métodos de análisis derivados de la bibliometría tomando en cuenta las fortalezas que tienen los documentos de Patentes como fuente de información, su estructura uniforme, organización y publicación en diversas bases de datos a nivel mundial.
- Conocer las tendencias y evolución de las tecnologías.
- Prever desarrollos tecnológicos en un área específica del conocimiento.
- Proveer información estratégica para la planificación tecnológica.
- Identificar nichos tecnológicos.
- Establecer indicadores de interés para la toma de decisiones en materia de proyectos de inversión y el
establecimiento de políticas públicas.